Si richiede la conoscenza di base della Struttura della Materia e delle tecniche di analisi dati acquisita nel corso di laurea triennale 

Contenuti

Introduzione alle tecnologie di vuoto, misura e analisi del gas residuo (Spettrometria di massa)

Tecniche microscopiche: microscopie elettroniche, a fascio ionico e a scansione di sonda

Tecniche diffrattive: diffrazione di elettroni, cenni di diffrazione di raggi X, scattering di neutroni, scattering di atomi neutri.

•Acquisire conoscenze approfondite di alcune metodologie sperimentali diffuse nei moderni Laboratori di Struttura della Materia, con particolare riferimento alla caratterizzazione morfologica e strutturale dei materiali.

•Saper scegliere, utilizzare e interpretare i dati provenienti da diverse tecniche sperimentali.

•Acquisire capacità di analisi critica dei risultati sperimentali e confronto con modelli teorici.

Lezioni frontali con presentazione power point a disposizione dello studente sulla pagina personale del phonebook dell’Università del Salento.

Attività di Laboratorio presso alcuni laboratori di ricerca ed infrastrutture del Dipartimento, con partecipazione attiva all'acquisizione dei dati e alla discussione dei risultati.

La valutazione si basa sulla presentazione di un progetto su una tecnica scelta, con analisi, interpretazione dei dati e discussione critica dei risultati.

Secondo il regolamento dell'Ateneo

Introduzione alle tecnologie di vuoto. Elementi di fisica del vuoto; misura e analisi del gas residuo (Spettrometria di massa)

Tecniche microscopiche: microscopie elettroniche, a fascio ionico e a scansione di sonda

·Microscopia elettronica (SEM/EDX e TEM ) e a fascio ionico Principi fisici della microscopia elettronica e a fascio ionico, SEM (Scanning Electron Microscopy): risoluzione, contrasto topografico e composizionale, analisi elementale (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy), TEM (Transmission Electron Microscopy): diffrazione degli elettroni, imaging ad alta risoluzione; FIB: peculiarità, potenzialità e differenze con la microscopia a fascio elettronico

·AFM e STM Forze intermolecolari e interazioni sonda-superficie, Atomic Force Microscopy (AFM): modalità di funzionamento, imaging topografico, modalità di misura, acquisizione di immagini d superfici micro- e nanostrutturate, misura della rugosità, Scanning Tunneling Microscopy (STM): effetto tunnel, imaging atomico

Tecniche diffrattive: diffrazione di elettroni, cenni di diffrazione di raggi X, scattering di neutroni, scattering di atomi neutri.

·Diffrazione di raggi X (XRD) Richiami dei principi di diffrazione, strutture cristalline, reticolo reciproco, tecniche di misura

Saranno indicati di volta in volta sulla base degli argomenti trattati